1.研究背景 隨著亞10 nm集成電路芯片逐步進(jìn)入消費(fèi)電子、互聯(lián)硬件、電子醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域,對(duì)典型缺陷進(jìn)行高速識(shí)別、定位與分類(lèi),將極具挑戰(zhàn)性。而納米光子學(xué)、計(jì)算成像、定量相位成像、光學(xué)渦旋、多電子束掃描、熱場(chǎng)成像以及深度學(xué)習(xí)等新興技術(shù),在提升缺陷靈敏度、分辨率以及對(duì)比度等方面已嶄露頭角,這將為晶圓缺陷檢測(cè)提供新的可能。 2.晶圓缺陷檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么? 評(píng)價(jià)準(zhǔn)則 為了更便捷地研究晶圓缺陷的可檢測(cè)性,研究者們建立了缺陷檢測(cè)靈敏度這一概念,以定量...
2024-07-16 09:35:59